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轻触开关寿命测试流程及规范,影响轻触开关寿命的因素
发布日期:2018-06-25 15:29:42 作者:Vincent 来源:深圳市亿利百斯特电子有限公司
发布日期:2018-06-25 15:29:42 作者:Vincent 来源:深圳市亿利百斯特电子有限公司
各种轻触开关在PCB电路的普及,使用寿命是一个很关键的性能因素,影响轻触开关寿命的因素大约有这几点:
1.使用环境,环境中的温度,湿度都对轻触开关寿命有一定的影响。
2.按压力度,通常我们的轻触开关按压力度为100gf / 160gf / 250gf 等,力度越轻寿命越高,反之寿命越低。
3.过载电流,电流过大容易烧坏弹片及接触点表面电镀层,当电镀层被破坏轻触开关容易引起接触不良。
4.加工工艺,加工工艺严格按照规格书流程,预防注意事项中提到的因素。
控制好以上几点,轻触开关的使用寿命一般都会比我们实验室测试寿命要长,实验室测试轻触开关寿命时使用的测试仪将力度砝码重量
施加到弹片按压力度,通电后以1800次/分钟的频率对轻触开关进行试验,测试过程中只要出现接触不良即视为最终寿命,所以选择购买
深圳市亿利百斯特电子有限公司的轻触开关,拨动开关,检测开关,按键开关,耳机插座,DC插座具有质量保证,我们严格按照规格书属性进行测试,保证品质始终如一交付到客户手中,
确保客户的利益。